NF C96-022/A2-2002 半导体器件.机械和气候试验方法

作者:标准资料网 时间:2024-05-20 10:13:39  浏览:9312   来源:标准资料网

【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods.
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法
【标准号】:NFC96-022/A2-2002
【标准状态】:作废
【国别】:法国
【发布日期】:2002-06-01
【实施或试行日期】:2002-06-05
【发布单位】:法国标准化协会(AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:气候试验;温度变化;电子工程;半导体器件;潮气;环境测试;耐力;热学;易燃性;温度;试验;环境试验;环境;尺寸;半导体;外观检查(试验);集成电路;电子设备及元件;机械试验;大气压;气候;电气工程;密封性;元部件;电学测量
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:35P;A4
【正文语种】:其他